半導體領域用光學薄膜測量儀測厚儀
半導體領域用光學薄膜測量儀測厚儀
半導體領域用光學薄膜測量儀測厚儀
產品信息 特 長 薄膜到厚膜的測量范圍、UV~NIR光譜分析 高性能的低價光學薄膜量測儀 藉由絕對反射率光譜分析膜厚 完整繼承FE-3000機種90%的強大功能 無復雜設定，操作簡單，短時...
● 支持從薄膜到厚膜的各種薄膜厚度
● 使用反射光譜分析薄膜厚度
● 實現非接觸、非破壞的高精度測量，同時體積小、價格低
● 簡單的條件設置和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度
● 通過峰谷法、頻率分析法、非線性最小二乘法、優化法等，可以進行多種膜厚測量。
● 非線性最小二乘法薄膜厚度分析算法可以進行光學常數分析（n：折射率，k：消光計數）。
● 支持從薄膜到厚膜的各種薄膜厚度
● 使用反射光譜分析薄膜厚度
● 實現非接觸、非破壞的高精度測量，同時體積小、價格低
● 簡單的條件設置和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度
● 通過峰谷法、頻率分析法、非線性最小二乘法、優化法等，可以進行多種膜厚測量。
● 非線性最小二乘法薄膜厚度分析算法可以進行光學常數分析（n：折射率，k：消光計數）。
● 支持從薄膜到厚膜的各種薄膜厚度
● 使用反射光譜分析薄膜厚度
● 實現非接觸、非破壞的高精度測量，同時體積小、價格低
● 簡單的條件設置和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度
● 通過峰谷法、頻率分析法、非線性最小二乘法、優化法等，可以進行多種膜厚測量。
● 非線性最小二乘法薄膜厚度分析算法可以進行光學常數分析（n：折射率，k：消光計數）。
● 支持從薄膜到厚膜的各種薄膜厚度
● 使用反射光譜分析薄膜厚度
● 實現非接觸、非破壞的高精度測量，同時體積小、價格低
● 簡單的條件設置和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度
● 通過峰谷法、頻率分析法、非線性最小二乘法、優化法等，可以進行多種膜厚測量。
● 非線性最小二乘法薄膜厚度分析算法可以進行光學常數分析（n：折射率，k：消光計數）。
● 支持從薄膜到厚膜的各種薄膜厚度
● 使用反射光譜分析薄膜厚度
● 實現非接觸、非破壞的高精度測量，同時體積小、價格低
● 簡單的條件設置和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度
● 通過峰谷法、頻率分析法、非線性最小二乘法、優化法等，可以進行多種膜厚測量。
● 非線性最小二乘法薄膜厚度分析算法可以進行光學常數分析（n：折射率，k：消光計數）。
-
儀器儀表
- 氣體檢測儀
- 熱電偶
- 粉塵儀
- 磁通計
- 角度計
- 加振器
- 探傷儀
- 氧氣計
- 計量泵
- 尺子測量
- 測量儀
- 密度計
- 馬弗爐
- 恒溫槽
- 壓縮機
- 離心泵
- 螺桿泵
- 葉片泵
- 柱塞泵
- 蠕動泵
- 定量泵
- 隔膜泵
- 酸堿度計
- 濁度計
- 電導率儀
- 鹽分計
- 檢測儀
- 監測儀
- 色度計
- 分光輻射計
- 差壓計
- 壓力表
- 料位計
- 電平計
- 比重計
- 流速計
- 工業內窺鏡
- 扭矩計
- 應力計
- 檢查器
- 檢針器
- 溫度計
- 摩擦計
- 放大鏡
- 粒度儀
- 篩分儀
- 試験機
- 測定儀
- 露點儀
- 電氣爐
- 轉速表
- 水分計
- 濃度計
- 流量計
- 物位計
- 測厚儀
- 硬度計
- 光纖測定器
- 水分活性測定
- 熱風計
- 數字照度計
- 風速計
- 實體顯微鏡
- 環境測定計
- 躁聲計
- 真空計
- 液位計
- 高斯計
- 控制閥
- 壓力計
- 噴嘴類
- 泵類
在線客服